Preview

Bulletin of State University of Education. Series: Physics and Mathematics

Advanced search

ВЗАИМОДЕЙСТВИЕ ЭЛЕКТРОМАГНИТНОЙ Н-ВОЛНЫ С ПОЛУПРОВОДНИКОВЫМ НАНОСЛОЕМ, РАСПОЛОЖЕННЫМ МЕЖДУ ДВУМЯ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИМИ СРЕДАМИ

Abstract

Цель: теоретическое моделирование оптических характеристик полупроводникового нанослоя, расположенного между двумя диэлектрическими средами. Процедура и методы. Используется квантовая теория явлений переноса, заключающаяся в нахождении матричных элементов оператора плотности решением уравнения Лиувилля. Поверхностное рассеяние носителей заряда учитывается через граничные условия Соффера. Результаты. Получены аналитические выражения для оптических коэффициентов как функций толщины нанослоя, частоты и угла падения электромагнитной волны, диэлектрических проницаемостей сред, химического потенциала и параметров шероховатости поверхностей. Проведён анализ зависимостей оптических коэффициентов от вышеназванных параметров для предельных случаев вырожденного и невырожденного электронного газа. Показано, что при полном внутреннем отражении амплитуды осцилляций зависимостей коэффициентов отражения и поглощения от толщины становятся сравнимы. Практическая значимость результатов заключается в их использовании для создания слоистых наноструктур, нанопокрытий с заданными оптическими характеристиками.

About the Authors

Олег Савенко
Центр коллективного пользования научным оборудованием «Диагностика микро- и наноструктур» Ярославского государственного университета им. П.Г. Демидова
Russian Federation


Ирина Кузнецова
кафедра Микроэлектроники и общей физики Ярославского государственного университета им. П.Г. Демидова


References

1. Ando T., Fowler A.B., Stern F. Electronic Properties of Two-Dimensional Systems // Review of Modern Physics. 1982. V. 54. P. 437–672.

2. Bihun R.I., Stasyuk Z.V., Balitskii O.A. Crossover from quantum to classical electron transport in ultrathin metal films // Physica B: Condens. Matter. 2019. V. 487. P. 73.

3. De Clercq M., Moors K., Sankaran K., Pourtois G., Dutta Sh., Adelmann Ch., Magnus W., Sorée B. Resistivity scaling model for metals with conduction band anisotropy // Phys. Rev. Materials. 2018. V. 2. №. 033801

4. Ketenoglu D., Ünal B. Green function solution of the Boltzmann transport equation for semiconducting thin film with rough boundaries // Physica A: Statistical Mech. and its Appl. 2012. V. 391, N. 3828.

5. Kuznetsova I.A., Romanov D.N., Savenko O.V. Electrical conductivity of a thin film in the case of an arbitrarily oriented ellipsoidal isoenergetic surface of a conductor // Physica Scripta. 2021. V. 96. № 4. 045803

6. Kuznetsova I.A., Savenko O.V., Romanov D.N. Influence of quantum electron transport and surface scattering of charge carriers on the conductivity of nanolayer // Phys. Lett. A. 2022. V. 427. P. 127933: 1–12

7. Lin Zh., Huang B., He G., Yang W., He Q., Li L. High efficiency enhancement of multi-crystalline silicon solar cells with syringe-shaped ZnO nanorod antireflection layers // Thin solid films. 2018. V. 653. P. 151–157.

8. Lutskii V.N. Quantum size effect present state and perspectives of experimental investigations // Phys. Stat. Sol. (a). 1970. V. 1. P. 199–220.

9. Meyerovich A.E., Ponomarev I.V. Surface roughness and size effects in quantized films // Phys. Rev. B. 2002. V. 65. N. 155413.

10. Munoz R.C., Arenas C. Size effects and charge transport in metals: Quantum theory of the resistivity of nanometric metallic structures arising from electron scattering by grain boundaries and by rough surfaces // Appl. Phys. Rev. 2017. V. 4, N. 011102.

11. Sheng L., Xing D.Y., Wang Z.D. Transport theory in metallic films: Crossover from the classical to the quantum regime // Phys. Rev. B, 1995. V. 51, N. 7325.

12. Shinde P.P., Shashishekar P.T., Adiga P., Konar A., Pandian Sh., Mayya K.S., Shin H.-J., Cho Y., and Park S. Electrical resistivity of atomically smooth single-crystal Cu films // Phys. Rev. B. 2020. V. 102. № 165102.

13. Soffer S.B. Statistical Model for the Size Effect in Electrical Conduction // J. Appl. Phys. 1967. V. 38 № 4, P. 1710.

14. Villagómez R., Xiao M. Thickness dependence of infrared reflectance of ultrathin metallic films: Influence of quantum confinement // Optik. 2016. V. 127. P. 5920.

15. Utkin A.I., Yushkanov A.A. Interaction of electromagnetic H-wave with the thin metal film is located on the dielectric substrate // Physics and Chemistry of Solid State. 2015. V. 16. № 2. P. 253.


Supplementary files

1. Заявление Савенко
Subject
Type Исследовательские инструменты
Download (156KB)    
Indexing metadata ▾
2. Заявление Кузнецовой
Subject
Type Исследовательские инструменты
Download (207KB)    
Indexing metadata ▾

Review

Views: 1


Creative Commons License
This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.


ISSN 2949-5083 (Print)
ISSN 2949-5067 (Online)