phmathВестник Государственного университета просвещения. Серия: Физика-МатематикаBulletin of Federal State University of Education. Series: Physics and Mathematics2949-50832949-5067Federal State University of Education10.18384/2310-7251-2018-1-63-72phmath-523Research ArticleСтатьиМАГНИТНОЕ ПОЛЕ ТОНКОГО МЕТАЛЛИЧЕСКОГО СЛОЯMAGNETIC FIELD OF A THIN METAL LAYERЗавитаевЭдуард ВалерьевичZavitaevEduard V.eduardzavitaev@yandex.ruРусаковОлег ВладимировичRusakovOleg V.olegrusmail@mail.ruЧухлебЕкатерина ПетровнаChukhlebEkaterina P.e.chuhleb@mail.ruГосударственный гуманитарно-технологический университетРоссияState University of Humanities and TechnologiesRussian FederationМуниципальное учреждение дополнительного образования Центр дополнительного образования «Малая академия наук Импульс»РоссияMunicipal Institution of Additional Education, The Center of Additional Education ‘ Junior Academy of Sciences Impulse’Russian Federation201820012023016372Copyright © Завитаев Э.В., Русаков О.В., Чухлеб Е.П., 20232023Завитаев Э.В., Русаков О.В., Чухлеб Е.П.Zavitaev E.V., Rusakov O.V., Chukhleb E.P.Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.https://www.physmathmgou.ru/jour/article/view/523

В статье приведён расчёт магнитной индукции при произвольном отношении длины свободного пробега электронов к толщине слоя. В качестве граничных условий задачи приняты условия зеркально-диффузного отражения электронов. Рассмотрена макроскопическая асимптотика и проведён анализ полученных результатов.

The paper presents the calculation of the magnetic induction at an arbitrary ratio of the free path length of electrons to the thickness of the layer. As boundary conditions of the problem the conditions of mirror-diffuse reflection of electrons are accepted. The macroscopic asymptotics is considered and the analysis of the obtained results is carried out.

тонкий слойплотность токамагнитная индукцияReferencesПетров Ю.И. Физика малых частиц. М.: Наука, 1982. 360 с.Петров Ю.И. Физика малых частиц. М.: Наука, 1982. 360 с.Уткин А.И., Юшканов А.А. Влияние коэффициентов зеркальности на взаимодействие Н-волны с тонкой металлической плёнкой // Оптика и спектроскопия. 2014. Т. 117. № 4. С. 650-653.Уткин А.И., Юшканов А.А. Влияние коэффициентов зеркальности на взаимодействие Н-волны с тонкой металлической плёнкой // Оптика и спектроскопия. 2014. Т. 117. № 4. С. 650-653.Уткин А.И., Юшканов А.А. Влияние коэффициентов зеркальности на проводимость тонкого металлического слоя в случае неоднородного, периодического по времени электрического поля // Микроэлектроника. 2016. Т. 45. № 5. С. 386-395.Уткин А.И., Юшканов А.А. Влияние коэффициентов зеркальности на проводимость тонкого металлического слоя в случае неоднородного, периодического по времени электрического поля // Микроэлектроника. 2016. Т. 45. № 5. С. 386-395.Уткин А.И., Завитаев Э.В., Юшканов А.А. Расчёт электрической проводимости тонкого металлического слоя в случае различных коэффициентов зеркальности его поверхностей // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2016. № 9. С. 85-91.Уткин А.И., Завитаев Э.В., Юшканов А.А. Расчёт электрической проводимости тонкого металлического слоя в случае различных коэффициентов зеркальности его поверхностей // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2016. № 9. С. 85-91.Уткин А.И., Юшканов А.А. Распределение электрического тока в тонком металлическом слое при различных коэффициентах зеркальности на поверхностях // Журнал технической физики. 2016. Т. 86. № 10. С. 15-19.Уткин А.И., Юшканов А.А. Распределение электрического тока в тонком металлическом слое при различных коэффициентах зеркальности на поверхностях // Журнал технической физики. 2016. Т. 86. № 10. С. 15-19.Кузнецова И.А., Романов Д.Н., Савенко О.В., Юшканов А.А. Расчёт высокочастотной электропроводности тонкого полупроводникового слоя в случае различных коэффициентов зеркальности его поверхностей // Микроэлектроника. 2017. Т. 46. № 4. С. 275-283.Кузнецова И.А., Романов Д.Н., Савенко О.В., Юшканов А.А. Расчёт высокочастотной электропроводности тонкого полупроводникового слоя в случае различных коэффициентов зеркальности его поверхностей // Микроэлектроника. 2017. Т. 46. № 4. С. 275-283.Бабич А.В., Погосов В.В. Квантовая металлическая плёнка в диэлектрическом окружении // Физика твёрдого тела. 2013. Т. 55. Вып. 1. С. 177-185.Бабич А.В., Погосов В.В. Квантовая металлическая плёнка в диэлектрическом окружении // Физика твёрдого тела. 2013. Т. 55. Вып. 1. С. 177-185.Абрикосов А.А. Основы теории металлов. М.: Наука, 1987. 520 с.Абрикосов А.А. Основы теории металлов. М.: Наука, 1987. 520 с.

The authors declare that there are no conflicts of interest present.