phmathВестник Государственного университета просвещения. Серия: Физика-МатематикаBulletin of Federal State University of Education. Series: Physics and Mathematics2949-50832949-5067Federal State University of Education10.18384/2310-7251-2016-4-43-55phmath-477Research ArticleРАЗДЕЛ II. ФИЗИКАSECTION II. PHYSICSРАСЧЁТ ВЫСОКОЧАСТОТНОЙ ЭЛЕКТРОПРОВОДНОСТИ И ПОСТОЯННОЙ ХОЛЛА ДЛЯ ТОНКОЙ МЕТАЛЛИЧЕСКОЙ ПЛЕНКИCALCULATION OF HIGH-FREQUENCY CONDUCTIVITY AND HALL CONSTANT OF A THIN METAL FILMСавенкоОлег ВладиславовичSavenkoOlegcryak92@mail.ruЯрославский государственный университет им. П.Г. ДемидоваРоссияP.G. Demidov Yaroslavl State UniversityRussian Federation201620012023044355Copyright © Савенко О.В., 20232023Савенко О.В.Savenko O.Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.https://www.physmathmgou.ru/jour/article/view/477

Рассмотрена кинетическая задача о нахождении высокочастотной электропроводности и постоянной Холла для тонкой металлической плёнки в поперечном стационарном магнитном поле и в продольном переменном электрическом поле. Предполагается диффузное отражение электронов от верхней и нижней границ плёнки. На соотношение между толщиной плёнки и длиной свободного пробега электронов ограничений не накладывается. Исследованы зависимости электропроводности и постоянной Холла от безразмерных параметров: частоты электрического поля, индукции магнитного поля и толщины плёнки. Проведено сравнение полученных результатов с экспериментальными данными.

We consider the kinetic problem on high-frequency conductivity and Hall constant of a thin metal film placed in a transverse stationary magnetic field and a longitudinal alternative electric field. The electron reflection from the upper and lower film boundaries is assumed to be diffusive. The relationship between the film thickness and the electron mean free path is arbitrary. The dependences of the conductivity and Hall constant on such dimensionless parameters as the electric field frequency, magnetic field induction and film thickness are investigated. The obtained results are compared with the experimental data.

функция распределенияуравнение Больцманаэлектропроводностьпостоянная Холлатонкая пленкаdistribution functionBoltzmann equationconductivityHall constantthin filmReferencesАбелес Ф. Оптические свойства металлических плёнок. Физика тонких плёнок / Под ред. М.К. Франкомба и Р.У Гофмана. М.: Мир, 1973. Т. 2. 392 с.Абелес Ф. Оптические свойства металлических плёнок. Физика тонких плёнок / Под ред. М.К. Франкомба и Р.У Гофмана. М.: Мир, 1973. Т. 2. 392 с.Андреев В.М. и др. Концентраторные модули нового поколения на основе каскадных солнечных элементов: конструкция, оптические и температурные свойства // Журнал технической физики. 2014. Т. 84. Вып. 11. С. 72-79.Андреев В.М. и др. Концентраторные модули нового поколения на основе каскадных солнечных элементов: конструкция, оптические и температурные свойства // Журнал технической физики. 2014. Т. 84. Вып. 11. С. 72-79.Ансельм А.И. Введение в теорию полупроводников. М.: Наука, 1978. 616 с.Ансельм А.И. Введение в теорию полупроводников. М.: Наука, 1978. 616 с.Антонец И.В. и др. Проводящие и отражающие свойства тонких металлических плёнок // Журнал технической физики. 2004. Т. 74. Вып. 11. С. 102-106.Антонец И.В. и др. Проводящие и отражающие свойства тонких металлических плёнок // Журнал технической физики. 2004. Т. 74. Вып. 11. С. 102-106.Гришин и др. Кратные осцилляции Зондгеймера в пластинах вольфрама с атомно чистыми поверхностями // Журнал экспериментальной и теоретической физики. 1979. Т. 76. № 4. С. 1325-1341.Гришин и др. Кратные осцилляции Зондгеймера в пластинах вольфрама с атомно чистыми поверхностями // Журнал экспериментальной и теоретической физики. 1979. Т. 76. № 4. С. 1325-1341.Завитаев Э.В. и др. Скин-эффект в тонкой цилиндрической проволоке из металла // Физика твёрдого тела. 2012. Т. 54. Вып. 6. С. 1041-1047.Завитаев Э.В. и др. Скин-эффект в тонкой цилиндрической проволоке из металла // Физика твёрдого тела. 2012. Т. 54. Вып. 6. С. 1041-1047.Касаткин Л.В., Чайка В.Е. Полупроводниковые устройства диапазона миллиметровых волн. / Под ред. В.П. Тараненко, С.П. Ракитина. Севастополь: Вебер, 2006. 319 с.Касаткин Л.В., Чайка В.Е. Полупроводниковые устройства диапазона миллиметровых волн. / Под ред. В.П. Тараненко, С.П. Ракитина. Севастополь: Вебер, 2006. 319 с.Кикоин И.К. Таблицы физических величин. М.: Атомиздат, 1976. 1008 с.Кикоин И.К. Таблицы физических величин. М.: Атомиздат, 1976. 1008 с.Ландау Л.Д., Лифшиц Е.М. Теоретическая физика. М.: ФИЗМАТЛИТ, 2005. Т. 8. 656 с.Ландау Л.Д., Лифшиц Е.М. Теоретическая физика. М.: ФИЗМАТЛИТ, 2005. Т. 8. 656 с.Лифшиц И.М. и др. Электронная теория металлов. М.: Наука, 1971. 415 с.Лифшиц И.М. и др. Электронная теория металлов. М.: Наука, 1971. 415 с.Малков М.П. и др. Справочник по физико-техническим основам криогеники. М.: Энергоатомиздат, 1985. 432 с.Малков М.П. и др. Справочник по физико-техническим основам криогеники. М.: Энергоатомиздат, 1985. 432 с.Уткин А.И., Юшканов А.А. Влияние коэффициентов зеркальности на взаимодей ISSN 2072-8387 1 Вестник МГОУ. Серия: Физика-Математика I 2016 / № 4 ствие Н-волны с тонкой металлической пленкой // Оптика и спектроскопия. 2014. Т. 117. № 4. С. 650-654.Уткин А.И., Юшканов А.А. Влияние коэффициентов зеркальности на взаимодей ISSN 2072-8387 1 Вестник МГОУ. Серия: Физика-Математика I 2016 / № 4 ствие Н-волны с тонкой металлической пленкой // Оптика и спектроскопия. 2014. Т. 117. № 4. С. 650-654.Учайкин В.В. и др. Эффекты памяти и нелинейного транспорта в процессах зарядки-разрядки суперконденсатора // Журнал технической физики. 2016. Т. 86. Вып. 2. С. 95-104.Учайкин В.В. и др. Эффекты памяти и нелинейного транспорта в процессах зарядки-разрядки суперконденсатора // Журнал технической физики. 2016. Т. 86. Вып. 2. С. 95-104.Brandt T. et al. Temperature- and frequency-dependent optical properties of ultrathin Au films // Phys. rev. B. 2008. Vol. 78. 205409.Brandt T. et al. Temperature- and frequency-dependent optical properties of ultrathin Au films // Phys. rev. B. 2008. Vol. 78. 205409.Fuchs K. The conductivity of thin metallic films according to the electron theory of metals // Proc. Camb. Phil. Soc. 1938. Vol. 34. pp. 100-108.Fuchs K. The conductivity of thin metallic films according to the electron theory of metals // Proc. Camb. Phil. Soc. 1938. Vol. 34. pp. 100-108.Munoz R.C. et al. Size effects under a strong magnetic field: Hall effect induced by electron-surface scattering on thin gold films deposited onto mica substrates under high vacuum // Phys. rev. lett. 2006. Vol. 96. 206803.Munoz R.C. et al. Size effects under a strong magnetic field: Hall effect induced by electron-surface scattering on thin gold films deposited onto mica substrates under high vacuum // Phys. rev. lett. 2006. Vol. 96. 206803.Sondheimer E.H. The influence of a transverse magnetic field on the conductivity of thin metallic films // Phys. Rev. 1950. Vol. 80. pp. 401-406.Sondheimer E.H. The influence of a transverse magnetic field on the conductivity of thin metallic films // Phys. Rev. 1950. Vol. 80. pp. 401-406.Sondheimer E.H. The mean free path of electrons in metals // Advances in Physics. 2001. Vol. 50. no. 6. pp. 499-537.Sondheimer E.H. The mean free path of electrons in metals // Advances in Physics. 2001. Vol. 50. no. 6. pp. 499-537.

The authors declare that there are no conflicts of interest present.