<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.3 20210610//EN" "JATS-journalpublishing1-3.dtd">
<article article-type="research-article" dtd-version="1.3" xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xml:lang="ru"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">phmath</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="ru">Вестник Государственного университета просвещения. Серия: Физика-Математика</journal-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Bulletin of Federal State University of Education. Series: Physics and Mathematics</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn pub-type="ppub">2949-5083</issn><issn pub-type="epub">2949-5067</issn><publisher><publisher-name>Federal State University of Education</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id pub-id-type="doi">10.18384/2310-7251-2020-1-50-56</article-id><article-id custom-type="elpub" pub-id-type="custom">phmath-41</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="heading"><subject>Research Article</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="ru"><subject>РАЗДЕЛ II. ФИЗИКА</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="en"><subject>SECTION II. PHYSICS</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title>ЗЕРКАЛЬНО-ДИФФУЗНЫЕ ГРАНИЧНЫЕ УСЛОВИЯ ДЛЯ ЭЛЕКТРОНОВ НА ПОВЕРХНОСТИ МЕТАЛЛА С УЧЁТОМ ЗАВИСИМОСТИ ОТ УГЛА ПАДЕНИЯ</article-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>MIRROR-DIFFUSE BOUNDARY CONDITIONS FOR ELECTRONS ON A METAL SURFACE TAKING INTO ACCOUNT THE DEPENDENCE ON THE INCIDENCE ANGLE</trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Каримов</surname><given-names>Ф. А.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Karimov</surname><given-names>F. A.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">faha_rtsu_2003@mail.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Юшканов</surname><given-names>А. А.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Yushkanov</surname><given-names>A. A.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">yushkanov@inbox.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib></contrib-group><aff-alternatives id="aff-1"><aff xml:lang="ru"><institution>Московский государственный областной университет</institution><country>Россия</country></aff><aff xml:lang="en"><institution>Moscow Region State University</institution><country>Russian Federation</country></aff></aff-alternatives><pub-date pub-type="collection"><year>2020</year></pub-date><pub-date pub-type="epub"><day>15</day><month>02</month><year>2022</year></pub-date><volume>0</volume><issue>1</issue><fpage>50</fpage><lpage>56</lpage><permissions><copyright-statement>Copyright &amp;#x00A9; Каримов Ф.А., Юшканов А.А., 2022</copyright-statement><copyright-year>2022</copyright-year><copyright-holder xml:lang="ru">Каримов Ф.А., Юшканов А.А.</copyright-holder><copyright-holder xml:lang="en">Karimov F.A., Yushkanov A.A.</copyright-holder><license xml:lang="ru" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.</license-p></license><license xml:lang="en" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.</license-p></license></permissions><self-uri xlink:href="https://www.physmathmgou.ru/jour/article/view/41">https://www.physmathmgou.ru/jour/article/view/41</self-uri><abstract><p>Целью статьи является разработка модели зеркально-диффузных граничных условий для электронов на поверхности металла, обобщающей модели Фукса и Соффера. Процедура и методы исследования. За основу модели принимаются зеркально-диффузные граничные условия. При этом принимается во внимание возможная зависимость коэффициента зеркальности от угла падения электронов на поверхность. Результаты проведённого исследования. Предложенные граничные условия удовлетворяют условию Андреева на коэффициент зеркальности при почти касательном падении электронов на поверхность. Они также в предельном случае воспроизводят известные зеркально-диффузные граничные условия Фукса. Теоретическая/практическая значимость заключается в том, что предложенную модель можно использовать для описания кинетических процессов вблизи поверхности металла, в тонких плёнках, проволоках, в мелких металлических частицах и при описании скин-эффекта в металле.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="en"><p>Purpose. We have developed a model of mirror-diffuse boundary conditions that satisfy the Fuchs and Soffer models. Methodology and Approach. The model is based on mirror-diffuse boundary conditions. In this case, the possible dependence of the specularity coefficient on the angle of incidence of the electron on the surface is taken into account. Results. The proposed boundary conditions satisfy the Andreev reflection coefficient with an almost tangent incidence of the electrons on the surface. In the limiting case they also reproduce the known mirror-diffuse Fuchs boundary conditions. Theoretical and Practical Implications. The proposed model satisfies all known models. This model can be used to describe kinetic processes near the surface of a metal, in thin films, wires, in small metal particles, and when describing the size effect in a metal.</p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>граничные условия</kwd><kwd>коэффициент зеркальности</kwd><kwd>угол падения</kwd><kwd>кинетические процессы</kwd></kwd-group><kwd-group xml:lang="en"><kwd>boundary conditions</kwd><kwd>specularity coefficient</kwd><kwd>angle of incidence</kwd><kwd>kinetic process</kwd><kwd>size effect</kwd></kwd-group></article-meta></front><back><ref-list><title>References</title><ref id="cit1"><label>1</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Абрикосов А. А. Основы теории металла. М.: Наука, 1977. 520 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Абрикосов А. А. Основы теории металла. М.: Наука, 1977. 520 с.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit2"><label>2</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Андреев А. Ф. Взаимодействие проводящих электронов с поверхностью металла // Успехи физических наук. 1971. Т. 105. Вып. 1. С. 114-123.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Андреев А. Ф. Взаимодействие проводящих электронов с поверхностью металла // Успехи физических наук. 1971. Т. 105. Вып. 1. С. 114-123.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit3"><label>3</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Кузнецова И. А., Романов Д. Н., Юшканов А. А. Расчёт высокочастотной электропроводности тонкого металлического слоя в случае эллипсоидальной поверхности Ферми // Микроэлектроника. 2018. Т. 47. № 3. С. 226-237.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Кузнецова И. А., Романов Д. Н., Юшканов А. А. Расчёт высокочастотной электропроводности тонкого металлического слоя в случае эллипсоидальной поверхности Ферми // Микроэлектроника. 2018. Т. 47. № 3. С. 226-237.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit4"><label>4</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Кузнецова И. А., Савенко О. В., Юшканов А. А. Влияние граничных условий на электропроводность тонкой цилиндрической проволоки // Микроэлектроника. 2016. Т. 45. № 2. С. 126-134.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Кузнецова И. А., Савенко О. В., Юшканов А. А. Влияние граничных условий на электропроводность тонкой цилиндрической проволоки // Микроэлектроника. 2016. Т. 45. № 2. С. 126-134.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit5"><label>5</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Латышев А. В., Юшканов А. А. Решение задачи о скин-эффекте с произвольным коэффициентом зеркальности // Журнал вычислительной математики и математической физики. 2009. Т. 49. №. 1. С. 137-151.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Латышев А. В., Юшканов А. А. Решение задачи о скин-эффекте с произвольным коэффициентом зеркальности // Журнал вычислительной математики и математической физики. 2009. Т. 49. №. 1. С. 137-151.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit6"><label>6</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Латышев А. В., Юшканов А. А. Взаимодействие электромагнитной H-волны с тонкой металлической пленкой // Микроэлектроника. 2012. Т. 41. № 1. С. 30-35.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Латышев А. В., Юшканов А. А. Взаимодействие электромагнитной H-волны с тонкой металлической пленкой // Микроэлектроника. 2012. Т. 41. № 1. С. 30-35.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit7"><label>7</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Уткин А. И., Юшканов А. А. Влияние коэффициентов зеркальности на взаимодействие электромагнитной E-волны с тонкой металлической пленкой, расположенной между двумя диэлектрическими средами // Оптика и спектроскопия. 2018. Т. 124. Вып. 2. С. 250-254.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Уткин А. И., Юшканов А. А. Влияние коэффициентов зеркальности на взаимодействие электромагнитной E-волны с тонкой металлической пленкой, расположенной между двумя диэлектрическими средами // Оптика и спектроскопия. 2018. Т. 124. Вып. 2. С. 250-254.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit8"><label>8</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Уткин А. И., Завитаев Э. В., Юшканов А. А. Расчёт электрической проводимости тонкого металлического слоя в случае различных коэффициентов зеркальности его поверхностей // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2016. № 9. С. 85-91.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Уткин А. И., Завитаев Э. В., Юшканов А. А. Расчёт электрической проводимости тонкого металлического слоя в случае различных коэффициентов зеркальности его поверхностей // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2016. № 9. С. 85-91.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit9"><label>9</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Уткин А. И., Юшканов А. А. Влияние коэффициентов зеркальности на проводимость тонкого металлического слоя в случае неоднородного, периодического по времени электрического поля // Микроэлектроника. 2016. Т. 45. № 5. С. 386-395.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Уткин А. И., Юшканов А. А. Влияние коэффициентов зеркальности на проводимость тонкого металлического слоя в случае неоднородного, периодического по времени электрического поля // Микроэлектроника. 2016. Т. 45. № 5. С. 386-395.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit10"><label>10</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Fuchs K. The conductivity of thin metallic films according to the electron theory of metals // Mathematical Proceedings of the Cambridge Philosophical Society. 1938. Vol. 34. No. 1. P. 100-108.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Fuchs K. The conductivity of thin metallic films according to the electron theory of metals // Mathematical Proceedings of the Cambridge Philosophical Society. 1938. Vol. 34. No. 1. P. 100-108.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit11"><label>11</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Sondheimer E. H. The mean free path of electrons in metals // Advances in Physics. 2001. Vol. 50. Iss. 6. P. 499-537.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Sondheimer E. H. The mean free path of electrons in metals // Advances in Physics. 2001. Vol. 50. Iss. 6. P. 499-537.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit12"><label>12</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Soffer S. B. Statistical Model for the Size Effect in Electrical Conduction // Journal of Applied Physics. 1967. Vol. 38. No. 4. P. 1710-1715.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Soffer S. B. Statistical Model for the Size Effect in Electrical Conduction // Journal of Applied Physics. 1967. Vol. 38. No. 4. P. 1710-1715.</mixed-citation></citation-alternatives></ref></ref-list><fn-group><fn fn-type="conflict"><p>The authors declare that there are no conflicts of interest present.</p></fn></fn-group></back></article>
