Исследование тонкопленочных электролюминесцентных индикаторов является актуальной задачей, особенно при проектировании средств отображения информации для техники специального назначения. Особый интерес представляет исследование светотехнических характеристик. В данной работе рассмотрен один из способов определения яркости, на основе применения вычислительных средств. В настоящий момент тонкоплёночные электролюминесцентные индикаторы являются наиболее перспективными в рамках специализированной техники, в виду высокой яркости, надёжности, широкого угла обзора и быстродействия. Для определения параметров тонкоплёночных структур, а так же их характеристик, используют различные системы уравнений. Оценивать получаемую яркость, а так же конструкторские параметры оказывающие влияние на результат, является важной задачей при проектировании новых изделий.
For the design of display products for technique of special purpose thin-film electroluminescent investigation of indicators is an important task. Of particular interest is investigation of lighting characteristics. In this paper we consider one of the ways to determine the brightness based on the use of computational tools. Currently thin-film electroluminescent indicators are the most promising, since high brightness, reliability, wide viewing angle and speed. For determining the parameters of thin-film structures that have used different systems of equations. Evaluate the resulting brightness, as well as design parameters influencing the result is an important task in the design of new products.
The authors declare that there are no conflicts of interest present.